Микроскопы Nikon

Высокопроизводительный сканирующий электронный микроскоп EM8000F обеспечивает детальную визуализацию и анализ микроструктуры материалов с нанометровым разрешением для научных исследований и промышленного контроля качества

Высокоточный сканирующий электронный микроскоп EM8100Pro для детального исследования поверхности и структуры материалов с возможностью увеличения до нанометрового масштаба

Высокотехнологичный сканирующий электронный микроскоп CIQTEK SEM4000X предназначен для получения изображений поверхности образцов с высоким разрешением путем сканирования электронным пучком

Высокоточный сканирующий электронный микроскоп СЭМ CIQTEK SEM5000Pro для детального исследования поверхности и структуры материалов с возможностью получения изображений высокого разрешения на наноуровне

Настольный сканирующий электронный микроскоп JEOL NeoScope JCM-7000 SEM — компактное высокоточное устройство для визуализации и анализа микроструктуры образцов с нанометровым разрешением в лабораторных условиях

Высокоточный инспекционный микроскоп Nikon Eclipse L300 предназначен для детального исследования и контроля качества микроэлектронных компонентов, полупроводниковых пластин и других промышленных образцов с превосходной оптической производительностью

Профессиональный поляризационный микроскоп Nikon Eclipse Ci-POL для исследования анизотропных материалов с высокой точностью и контрастностью изображения

UOP DSY5000X — инвертированный флуоресцентный микроскоп для выявления флуоресцентных меток и наблюдения за клеточными образцами. Устройство сочетает режимы люминесценции, светлого поля и фазового контраста, что делает его универсальным инструментом для лабораторных задач и прикладных исследований.

Профессиональный микроскоп для исследований в светлом поле и флуоресценции с тринокулярной насадкой, ЖК-дисплеем и объективами 4–40×.