Микроскопы для работы в проходящем и отраженном свете

Профессиональный стереоскопический микроскоп NSZ 405 обеспечивает четкое трехмерное изображение с широким полем зрения для детального исследования объемных образцов в лабораторных и промышленных условиях

Стереоскопический бинокулярный микроскоп NSZ707 для детального исследования трехмерных объектов с высокой точностью и комфортом при длительной работе

Стереоскопический бинокулярный микроскоп NSZ709 для детального исследования трехмерных объектов с высокой точностью и комфортом при длительной работе

Стереоскопический тринокулярный микроскоп NSZ707T для детального исследования трехмерных объектов с высокой точностью и комфортом при длительной работе

Стереоскопический бинокулярный микроскоп NSZ709T для детального исследования трехмерных объектов с высокой точностью и комфортом при длительной работе

Высокоточный инспекционный микроскоп Nikon Eclipse L300 предназначен для детального исследования и контроля качества микроэлектронных компонентов, полупроводниковых пластин и других промышленных образцов с превосходной оптической производительностью