Сканирующий электронный микроскоп EM8000F
Высокопроизводительный сканирующий электронный микроскоп EM8000F обеспечивает детальную визуализацию и анализ микроструктуры материалов с нанометровым разрешением для научных исследований и промышленного контроля качества
- Производитель:
- 1
Сканирующий электронный микроскоп KYKY-EM8000F — это высокотехнологичная система для поверхностного морфологического анализа, работающая на основе метода растровой электронной микроскопии (SEM). Он занимает идеальную нишу между оптическим и просвечивающим электронным микроскопом, обеспечивая визуализацию поверхности образцов с высоким разрешением и широким диапазоном увеличений.
Ключевые особенности:
- Электронный пистолет Schottky (поле испускания): обеспечивает яркий, монохроматический электронный пучок с высокой стабильностью и долговечностью.
- Высокое разрешение при низком ускоряющем напряжении: SE-изображение с разрешением 1,5 нм при 15 кВ; BSE-изображение до 3 нм при 20–30 кВ.
- Широкий диапазон увеличений: от 15× до 500 000×.
- Гибкая настройка напряжения: плавное регулирование от 0 до 30 кВ.
- Автоматическая фокусировка и коррекция: функции автофокуса, яркости/контраста, астигматизма и центровки пучка значительно упрощают работу.
- Усиленная вакуумная система: сочетание турбомолекулярного насоса, ионных насосов и механического насоса, обеспечивающее высокую степень вакуума и защиту детекторов.
- Гибкая работа с не проводящими образцами: позволяет наблюдать без покрытия золотом при низком напряжении.
- Удобство контроля: управление всеми функциями микроскопа осуществляется мышью, без сложных ручных настроек.
- Расширяемость и адаптивность: легко сочетается с дополнительными инструментами — BSE, EDS, EBSD, STEM, CL, загрузочными камерами и пр.
Идеален для университетских лабораторий, научно-исследовательских институтов и отраслевых применений: материаловедение, биология, медицина, химия, экология.
Таблица технических характеристик
| Параметр | Значение / Описание |
|---|---|
| Разрешение (SE) | 1,5 нм при 15 кВ |
| Разрешение (BSE) | ~3 нм при 20–30 кВ |
| Увеличение | 15× – 500 000× |
| Ускоряющее напряжение | 0 – 30 кВ (плавное регулирование) |
| Тип электронного пистолета | Schottky (поле испускания) |
| Автоматические функции | Фокус, яркость/контраст, астигматизм, центровка пучка |
| Вакуумная система | Турбомолекулярный насос, 2 ионных насоса, механический насос |
| Детекторы | Стандартно: SE; опции: BSE, EDS, EBSD, X-ray спектрометр |
| Работа с непроводящими образцами | Без покрытия при низком напряжении |
| Управление | Мышью через удобный интерфейс |
| Стадия (образец) | 5-осевая: X 0–80 мм, Y 0–60 мм, Z 0–50 мм, вращение 360°, наклон −5° – 90° |
| Максимальный размер образца | ∅ 175 мм (модификации с большим образцом — до ∅ 320 мм) |
| Дополнительные функции | Защита детектора, вакуумный интерлок, расширения: STEM, CL, загрузочная камера и пр. |
| Дополнительные аксессуары | EDS, EBSD, STEM, CL, нагрев/охлаждение, растяжка и другие |
Примечание: некоторые спецификации (например, диаметры образца, диапазоны стадий) могут отличаться в зависимости от комплектации и настроек — уточняйте у официального представителя для вашей конфигурации.
Таблица технических характеристик
| Параметр | Значение / Описание |
|---|---|
| Разрешение (SE) | 1,5 нм при 15 кВ |
| Разрешение (BSE) | ~3 нм при 20–30 кВ |
| Увеличение | 15× – 500 000× |
| Ускоряющее напряжение | 0 – 30 кВ (плавное регулирование) |
| Тип электронного пистолета | Schottky (поле испускания) |
| Автоматические функции | Фокус, яркость/контраст, астигматизм, центровка пучка |
| Вакуумная система | Турбомолекулярный насос, 2 ионных насоса, механический насос |
| Детекторы | Стандартно: SE; опции: BSE, EDS, EBSD, X-ray спектрометр |
| Работа с непроводящими образцами | Без покрытия при низком напряжении |
| Управление | Мышью через удобный интерфейс |
| Стадия (образец) | 5-осевая: X 0–80 мм, Y 0–60 мм, Z 0–50 мм, вращение 360°, наклон −5° – 90° |
| Максимальный размер образца | ∅ 175 мм (модификации с большим образцом — до ∅ 320 мм) |
| Дополнительные функции | Защита детектора, вакуумный интерлок, расширения: STEM, CL, загрузочная камера и пр. |
| Дополнительные аксессуары | EDS, EBSD, STEM, CL, нагрев/охлаждение, растяжка и другие |
Примечание: некоторые спецификации (например, диаметры образца, диапазоны стадий) могут отличаться в зависимости от комплектации и настроек — уточняйте у официального представителя для вашей конфигурации.