Микроскопы Nikon

Настольный сканирующий электронный микроскоп JEOL NeoScope JCM-7000 SEM — компактное высокоточное устройство для визуализации и анализа микроструктуры образцов с нанометровым разрешением в лабораторных условиях

Высокоточный инспекционный микроскоп Nikon Eclipse L300 предназначен для детального исследования и контроля качества микроэлектронных компонентов, полупроводниковых пластин и других промышленных образцов с превосходной оптической производительностью

Профессиональный поляризационный микроскоп Nikon Eclipse Ci-POL для исследования анизотропных материалов с высокой точностью и контрастностью изображения